大理石基礎(chǔ)平臺是用優(yōu)良的石質(zhì)材料制成的基準(zhǔn)測量工具，對儀器儀表、工具、機(jī)械制件的檢驗，都是理想的基準(zhǔn)面。特別是用於的測量方面，由於它良好的特性，而使鑄鐵平板相形見絀。大理石基礎(chǔ)平臺適用于工業(yè)生產(chǎn)和實驗室的測量工作。主要礦物成份為輝石，斜長石，少量橄欖，黑云母以及微量磁鐵礦，黑色光澤，結(jié)構(gòu)，經(jīng)過億萬年的老化，均勻，穩(wěn)定性好、強(qiáng)度大、，能在重負(fù)荷下保持。

大理石平板的物理性能

<1>抗壓強(qiáng)度大于等于245mpa。

<2>抗彎強(qiáng)度22kn/mm²。

<3>肖氏硬度大于HS70。

<4>吸水率小于0.25%。

<5>大理石平板工作面硬度應(yīng)均勻且工作面各部位肖氏硬度應(yīng)在HS70以上。

<6>大理石平板工作面的表面粗糙度平均偏差Ra值應(yīng)達(dá)到0.32~0.63μm，側(cè)面的表面粗糙度平均偏差Ra值應(yīng)小于10μm。

<7>大理石平板工作面與側(cè)面以及相鄰兩側(cè)面的垂直度公差為12級。

<8>對采用對角線法或網(wǎng)格法檢驗大理石平板工作面平面度時，應(yīng)檢驗其平面波動量。

<9>大理石平板的平面度取其平面波動大值與小值，大小值之差即為平板的平面度。